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点击次数:169 更新时间:2023-07-06 14:23

3D飞点分光干涉仪——偏光片薄膜沟槽深度测量

一、案例介绍:


液晶屏能够显示各种信息给人类,是现代电子技术、人工智能的重要基础单位,是人机交互的重要通道,具有十分重要的价值。液晶屏中最新的是源矩阵有机发光二级面板显示屏(amoled),偏光片是它的重要组成。


二、解决方案:


采用3D飞点分光干涉仪系列,采集点云数据,用GIVS 3D进行检测。

软件工具:平面校正、点云转深度图、高度测量等等。

 

-检测样品示例-


-点云图采集示例-

三、检测过程:


1、点云数据采集;

2、进行点云数据校正,将点云转成深度图;

3、选择测量区域,进行高度测量。

 

-检测结果显示-

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