3D飞点分光干涉仪——偏光片薄膜沟槽深度测量
液晶屏能够显示各种信息给人类,是现代电子技术、人工智能的重要基础单位,是人机交互的重要通道,具有十分重要的价值。液晶屏中最新的是源矩阵有机发光二级面板显示屏(amoled),偏光片是它的重要组成。
采用3D飞点分光干涉仪系列,采集点云数据,用GIVS 3D进行检测。
软件工具:平面校正、点云转深度图、高度测量等等。
-检测样品示例-
1、点云数据采集;
2、进行点云数据校正,将点云转成深度图;
3、选择测量区域,进行高度测量。
-检测结果显示-
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